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Portraits de l'exil, Paris-New York

dans le sillage d'Hannah Arendt, photographies de Fred Stein, [exposition, Paris, Musée du Montparnasse, 4-26 novembre 2011]
Editeur :
Publication
[Paris] : Arcadia éd., impr. 2011
Année de parution :
2011
Importance matérielle
1 vol. (188 p.) : nombreuses ill., fac-sim., couv. ill. : 32 cm
A l'occasion d'une exposition au Musée du Montparnasse, cet ouvrage réunit des portraits provenant des archives de la famille Stein, réalisés à Paris ou à New York, où le photographe trouva refuge en 1941. Dédiée au thème de l'exil, cette sélection représente une centaine d'intellectuels ayant vécu un double exil entre 1933 et 1942 : ils ont fui d'abord l'Allemagne nazie, puis l'Europe en guerre.